Вчені створили одиницю виміру для нанотехнологій

Фахівці новосибірського Інституту фізики напівпровідників ЗІ РАН створили стандарт вимірювання висоти поверхні, який може застосовуватися для настройки і калібрування високоточної апаратури, в тому числі застосовуваної в сфері нанотехнологій, повідомив у четвер журналістам старший науковий співробітник інституту Сергій Косолобов.

«Для області нанотехнологій існування стандартів калібрування приладів, які вимірюють висоту або профіль поверхні, це дуже важливе завдання. Їх на даний момент в світі немає таких стандартів. 90-100 нанометрів є, а все, що менше, – нема. Ми створили такий еталонний об’єкт, його зараз реєструють у державному реєстрі засобів вимірювань», – сказав Косолобов.

Він пояснив, що спочатку вчені займалися створенням ідеально гладкій поверхні і вчилися контролювати перебудову атомів при внесенні змін у структуру будь-якої поверхні, наприклад, зразка кремнію. Фізикам вдалося отримати поверхні, які не містять на собі шарів атомів – «атомних сходинок».

«Навіщо це потрібно? Коли нам приносять біологи якийсь об’єкт і кажуть: “Ми хочемо знати його форму», – ми повинні покласти його на якусь підкладку. Але якщо підкладка сама має якусь форму, ми будемо міряти сукупність двох форм, і реальну важко вичленувати”, – пояснив Косолобов.

Згодом, розповів він, фізики почали розташовувати на заданих місцях поверхні від однієї до кількох сотень «атомних сходинок», що і призвело до створення нового стандарту вимірювань висоти. Цей стандарт вже використовується виробниками атомно-силових і інтерференційних мікроскопів.

Залишити відповідь

Ваша e-mail адреса не оприлюднюватиметься. Обов’язкові поля позначені *